生物物理学 · 01.04
放射線の減弱則
Attenuation law
🧠 減弱は、放射線が物質中を進むたびに「今残っている量の一定割合」が失われる過程である。 そのため強度は距離に対して直線的ではなく指数関数的 exponentially 指数関数的(exponentially) exponentially(指数関数的) に低下する。失われる主因は吸収と散乱であり、線減弱係数linear attenuation coefficient線減弱係数(linear attenuation coefficient)linear attenuation coefficient(線減弱係数)が両者をまとめて表す。
減弱とは
減弱とは、放射線が物質と相互作用することにより、元の方向へ進む一次放射線 primary radiation 一次放射線(primary radiation) primary radiation(一次放射線) の強度が低下する現象である。
放射源からの距離による放射照度 irradiance 放射照度(irradiance) irradiance(放射照度) の変化が幾何学的拡散 geometrical spreading 幾何学的拡散(geometrical spreading) geometrical spreading(幾何学的拡散) を扱うのに対し、ここでは物質を通過する間に放射が失われる過程を扱う。
主な原因は次の2つである。
- 吸収: 放射線のエネルギーが媒質へ移り、入射放射線が消失する。
- 散乱: 放射線の進行方向が変わり、測定している一次ビーム primary beam 一次ビーム(primary beam) primary beam(一次ビーム) から外れる。
💡 検出器へ直進する一次ビーム primary beam 一次ビーム(primary beam) primary beam(一次ビーム) を考えると、散乱された放射線はエネルギーを完全に失っていなくても「ビームから除かれた」と数える。したがって減弱は吸収だけを意味しない。
微小厚さでの減少
厚さの薄い層を通過するとき、強度の減少量は、現在の強度と厚さに比例する。
減弱係数attenuation coefficient 減弱係数(attenuation coefficient)attenuation coefficient(減弱係数) が放射の種類やエネルギーに依存する理由は、電磁スペクトルelectromagnetic spectrum電磁スペクトル(electromagnetic spectrum)electromagnetic spectrum(電磁スペクトル)と物質との相互作用を対応させると理解しやすい。
は線減弱係数 linear attenuation coefficient 線減弱係数(linear attenuation coefficient) linear attenuation coefficient(線減弱係数) で、単位はm⁻¹またはcm⁻¹である。負号は、進むにつれてが減少することを表す。
この微分方程式を厚さ0からまで積分すると、一般減弱則general attenuation law 一般減弱則(general attenuation law)general attenuation law(一般減弱則) が得られる。
- :物質へ入る前の強度
- :厚さを通過した後の強度
- :線減弱係数 linear attenuation coefficient線減弱係数(linear attenuation coefficient) linear attenuation coefficient(線減弱係数)
- :物質中を通過した距離
flowchart TD
A["入射強度 I₀"] --> B["厚さdxの層へ入射"]
B --> C["一部が吸収"]
B --> D["一部が散乱"]
C --> E["<span class='jp-term jp-term-diagram' title='primary beam'>一次ビーム</span>から除去"]
D --> E
E --> F["残った強度が次の層へ進む"]
F --> G["反復すると I = I₀e⁻ᵘˣ"]
なぜ指数関数になるのか
各層が「一定量」ではなく「その時点で残っている放射線の一定割合」を除去するからである。最初の層では入射量が多いため多く失われ、後の層では残量が少ないため失われる絶対量も小さくなる。
媒質による吸収を濃度から定量する場合は、Lambert–Beerの法則へこの考え方を発展させる。
| 厚さ | 残存強度residual intensity残存強度(residual intensity)residual intensity(残存強度) |
|---|---|
半価層
強度を半分にする物質の厚さを半価層 half-value layer, HVL 半価層(half-value layer, HVL) half-value layer, HVL(半価層) という。を減弱則 attenuation law 減弱則(attenuation law) attenuation law(減弱則) へ代入すると、
単色・細いビーム近似では、HVLが小さいほど、その物質による減弱が強い。枚のHVLを通過すると、強度はになる。1
⭐ が大きいほど減弱は強く、HVLは小さくなる。とHVLは反比例する。
減弱係数を決める因子
は一定の物質定数ではなく、次の条件によって変化する。
- 放射線の種類とエネルギー
- 物質の密度
- 物質を構成する元素 element 元素(element) element(元素) の原子番号 atomic number原子番号(atomic number) atomic number(原子番号)
- 起こりうる吸収・散乱過程
密度の影響を分離して物質を比較するときは、質量減弱係数mass attenuation coefficient質量減弱係数(mass attenuation coefficient)mass attenuation coefficient(質量減弱係数)を用いる。
複数過程・複数層の減弱
独立した相互作用が複数あるとき、全減弱係数total attenuation coefficient 全減弱係数(total attenuation coefficient)total attenuation coefficient(全減弱係数) は各過程の係数の和になる。
異なる物質層を順に通過する場合は、それぞれの指数因子を掛け合わせる。
適用条件と限界
単純な指数減弱 exponential attenuation 指数減弱(exponential attenuation) exponential attenuation(指数減弱) 則は、細い単色ビーム monochromatic beam 単色ビーム(monochromatic beam) monochromatic beam(単色ビーム) (narrow, 単一エネルギービーム)と均一な物質を仮定する。広いビームでは散乱線 scattered radiation 散乱線(scattered radiation) scattered radiation(散乱線) が検出器へ入り、測定強度が単純式より大きくなることがある。異なるエネルギーを含むX線では、低エネルギー成分が先に吸収されて平均エネルギーが上がるビームハードニング beam hardening ビームハードニング(beam hardening) beam hardening(ビームハードニング) も起こり、一定のを用いる単純式から外れる。2
⚠️ 距離による逆二乗則 inverse-square law 逆二乗則(inverse-square law) inverse-square law(逆二乗則) と、物質内での指数関数的 exponentially 指数関数的(exponentially) exponentially(指数関数的) な減弱は別の法則である。測定配置によっては両方を考慮する必要がある。
まとめ
- 減弱は吸収と散乱による一次放射線 primary radiation 一次放射線(primary radiation) primary radiation(一次放射線) 強度の低下である。
- 微小層で失われる量が現在の強度に比例するため、となる。
- 線減弱係数linear attenuation coefficient線減弱係数(linear attenuation coefficient)linear attenuation coefficient(線減弱係数)が大きいほど減弱は強く、HVLは小さい。
- 全減弱係数total attenuation coefficient 全減弱係数(total attenuation coefficient)total attenuation coefficient(全減弱係数) は、独立した吸収・散乱過程の係数の和として表せる。
- 単純な指数則は単色・細いビーム・均一媒質で最もよく成り立つ。
出典
- 1.The AAPM/RSNA physics tutorial for residents. X-ray attenuation(Radiographics・1998)X線減弱の指数則、減弱係数、半価層の物理的基礎閲覧 2026-08-20
- 2.Correction of beam hardening in X-ray radiograms(Review of Scientific Instruments・2019)多色X線で生じるビームハードニングと単純指数則からのずれ閲覧 2026-08-20